文章导读
你站在国产芯片“自研”与“卡脖子”现实的交界处：清华与精智达刚刚把一个看似学术的“联合研究中心”变成了国家级的备战阵地。多数人只把这类揭牌当成例行公关，但实测数据显示，过去几年存储器测试从算法到设备的国产化环节，恰恰是供应链断裂最脆弱的那一环——忽视这点，你的钱包和交期都会被外部制约。报告会上提到的ALPG等技术，并非只是一串术语，而可能是决定未来国产测试能否跳出“跟随者”命运的关键节点。
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4月26日上午，清华-精智达人工智能赋能先进存储测试系统联合研究中心（以下简称“联合研究中心”）揭牌仪式和先进存储测试与人工智能赋能技术发展报告会在主楼接待厅举行。清华大学副校长吴华强、深圳精智达技术股份有限公司董事长张滨等出席仪式，共同为联合研究中心揭牌。清华大学集成电路学院院长尹首一主持仪式和报告会。
揭牌仪式
吴华强表示，清华大学深入学习贯彻习近平总书记考察清华大学重要讲话精神，紧密围绕集成电路“卡脖子”难题，聚焦学科前沿，强化交叉融合。2023年4月，清华大学集成电路学院与精智达成立新一代存储器测试系统联合研究中心，在算法逻辑向量生成（ALPG）等关键技术上实现从理论算法、芯片架构到整机集成的完全国产化突破。进入“十五五”时期，集成电路产业将进入“实现创新引领”的下半场，围绕人工智能赋能先进存储测试系统成立联合研究中心，是双方具有创新性、前瞻性和战略性的合作举措，有望推动我国先进存储测试技术达到新高度。希望双方在新一轮合作中紧密协同，为我国存储测试领域从“自主可控”迈向“全球领先”作出更大贡献。
张滨表示，为攻克当前先进存储芯片测试领域“卡脖子”瓶颈，双方共同构建面向先进存储的智能测试设备体系。联合研究中心承载着技术引领、产业落地、人才共育三重使命，精智达将投入最优质的资源，组建最精锐的团队，与清华师生紧密协作，力争早日产出标志性、突破性成果。
深圳精智达技术股份有限公司半导体事业部市场专家和清华大学集成电路学院教授苏菲分别作题为“先进存储测试与ATE技术发展挑战、机遇与智能化趋势”“人工智能赋能先进存储测试：迈向智能化测试体系”的报告。
活动现场
深圳精智达技术股份有限公司，清华大学集成电路学院、科研院相关负责人，清华大学校友、师生等110余人参加活动。
供稿：集成电路学院
编辑：李华山
审核：吕婷 郭玲
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