journal of materials science and nanotechnology

图表质量直接影响初审淘汰率，近3个月统计显示，37%的退稿源于分辨率不足300dpi的SEM图像。建议采用矢量图绘制原理示意图，纳米线阵列等微观结构需标注比例尺并附原始数据。