第三届电子测量、集成电路与测控系统国际会议（EMICMCS 2026）

第三届电子测量、集成电路与测控系统国际会议（EMICMCS 2026）

3rd International Conference on Electronic Measurement, Integrated Circuits and Measurement‑Control System（EMICMCS 2026）

 

征稿主题范围广 | 高效审核 | 录用率高

IEEE、IOP、SPIE等权威出版社

ISSN/ISBN双刊号 | 团队/学生投稿优惠

 

【重要信息】

网址：https://www.confs-online.com/emicmcs

IEEE、IOP、SPIE等权威出版社

会议地点：洛阳，中国

截稿时间：以官网为准（延期投稿者/咨询相关会议 请联系会议墨老师）

投稿主题请注明：EMICMCS 2026+通讯作者姓名，否则无法确认您的稿件

接受/拒稿通知：投稿后3-5天内！

更多学术信息，团队/学生投稿专属优惠，欢迎咨询墨老师

【核心期刊&普刊推荐】

1、SCI/SSCI/A&HCI：涵盖各分区期刊，精准匹配研究方向

2、EI Compendex：工程索引权威期刊/会议

3、北大核心，科技核心最新版目录期刊

4、高质量普刊（知网/万方/维普收录），国际英文期刊安排

 

【大会简介】

第三届电子测量、集成电路与测控系统国际会议（EMICMCS 2026）将在中国洛阳召开。本次会议会致力于构筑全球顶尖的学术对话与产业融通高地，诚邀海内外杰出学者、技术先驱及行业领袖齐聚一堂。会议将深度聚焦前沿理论突破与关键核心技术，系统展示最新科研转化成果，分享跨学科实践经验，共谋未来技术演进路径。我们旨在通过高强度的思想碰撞与资源整合，激发创新动能，推动产学研用一体化进程，诚邀您共襄盛举，携手开启领域发展的新纪元。

 

【论文收录】

1.向EMICMCS 2026提交的所有全文都可以用英语书写，并将发送给至少两名评审员，并根据原创性、技术或研究内容或深度、正确性、与会议的相关性、贡献和可读性进行评估。EMICMCS 2026所有被接受的论文将在会议记录中发表，并提交给Scopus、EI Compendex、CPCI、CNKI、Google Scholar进行索引。

2.审稿流程：作者投稿-稿件收到确认（1个工作日）-初审(1-3工作日) -告知结果（接受/拒稿），越早投稿越早收到文章结果。

 

【征文主题】

（以下主题包括但不限于）

主题一：电子测量

电子测量基础理论

精密测量与仪器

数字多用表与测量

示波器与时域测量

频谱与信号分析

阻抗/电容/电感测量

半导体参数测试

集成电路测试技术

自动测试系统（ATE）

电子测量校准与溯源

测量不确定度评估

嵌入式测量系统

虚拟仪器与软件

题目二：集成电路

集成电路基础理论

数字集成电路设计

模拟集成电路设计

射频集成电路设计

混合信号电路设计

系统级芯片（SoC）设计

存储芯片设计

功率集成电路设计

集成电路设计自动化

集成电路验证与测试

集成电路版图设计

集成电路工艺技术

集成电路封装技术

集成电路可靠性

集成电路功耗优化

主题三：测控系统

测控系统总体设计

数据采集与信号调理

传感器与执行器

测控通信协议

实时测控系统

分布式测控系统

远程测控系统

嵌入式测控系统

无线测控网络

测控系统可靠性

测控系统抗干扰

测控系统故障诊断

测控软件平台

自动化测控技术

测控系统校准

 

【投稿说明】

1.本会议官方语言为英语，投稿者务必用英语撰写论文。如需翻译服务，请联系会议组墨老师。

2.论文应具有学术或实用价值，未在国内外学术期刊或会议发表过。作者可通过CrossCheck, Turnitin或其他查询系统自费查重，否则由文章重复率引起的被拒搞将由作者自行承担责任。涉嫌抄袭的论文将不被出版。

3.文章至少6页。请根据格式模板文件编辑您的文章。学生作者或多篇投稿有优惠。

4.只做报告不发表论文的作者只需提交摘要。

5.投稿主题请注明:EMICMCS 2026+通讯作者姓名（否则无法确认您的稿件）